Technical Digest - International Electron Devices Meeting

ISSN 01631918 · Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. · United States · 非OA

Technical Digest - International Electron Devices Meeting（ISSN 01631918）影响因子 3.38，中科院分区 2 区（预估），Scimago -，SJR 1.05，H 指数 132，IPP 3.38，非OA，Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. 出版，United States，近三年发文 738 篇，总被引 2,759 次，篇均被引 3.38。

条形长度为该指标在工程技术内的相对位置，仅用于直观对比，不代表排名换算。

1 · 方向是否对得上。该刊细分类别为 Condensed Matter Physics；Electrical and Electronic Engineering；Electronic, Optical and Magnetic Materials；Materials Chemistry。方向不符的稿件大概率在编辑初审阶段就被转投，浪费的是你自己的时间。
2 · 创新强度是否够得上。该刊 SJR 1.05，在工程技术 - 中超过 97.0% 的同区期刊。能被这一档接受的工作通常需要机制完整或有独立验证，增量型结果投上沿区间容易被直接拒稿。
3 · 时间是否排得开。审稿周期暂无公开记录，加上返修与排版，实际从投稿到见刊通常要按这个数字的两到三倍预留。