AUTOTESTCON (Proceedings)

ISSN 07347510 · Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. · United States · 非OA

AUTOTESTCON (Proceedings)（ISSN 07347510）影响因子 0.13，中科院分区 4 区（预估），Scimago -，SJR 0.11，H 指数 26，IPP 0.13，非OA，Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. 出版，United States，近三年发文 39 篇，总被引 5 次，篇均被引 0.13。

条形长度为该指标在计算机科学内的相对位置，仅用于直观对比，不代表排名换算。

1 · 方向是否对得上。该刊细分类别为 Computer Science Applications；Electrical and Electronic Engineering。方向不符的稿件大概率在编辑初审阶段就被转投，浪费的是你自己的时间。
2 · 创新强度是否够得上。该刊 SJR 0.11，在计算机科学 - 中超过 23.0% 的同区期刊。能被这一档接受的工作通常需要机制完整或有独立验证，增量型结果投上沿区间容易被直接拒稿。
3 · 时间是否排得开。审稿周期暂无公开记录，加上返修与排版，实际从投稿到见刊通常要按这个数字的两到三倍预留。